ГосреестрДемо-показЛизинг

Лазерный SLAM сканер XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade

4 отзыва
Гарантия 1 год
Госреестр 95947-25
Артикул 135198 Код товара 135198
Поставляется с электронным свидетельством о поверке
XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade - SLAM сканер
XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade - SLAM сканер
XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade - SLAM сканер
XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade - SLAM сканер
XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade - SLAM сканер
83Fv1hs1fyMuXVXqLy6M14
XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade - SLAM сканер
Характеристики
Госреестр:
95947-25
Скорость сканирования:
320 000 точек/сек
Дальность измерений:
120 м
Все характеристики
Лазерный SLAM сканер XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade – высокопроизводительный мобильный прибор...
Перейти к описанию
Lixel L2 PRO
3 147 800 ₽ Последняя цена
Лизинг на выгодных условиях
Лизинг на выгодных условиях
Лазерный SLAM сканер XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade
screen screen screen screen screen screen screen screen screen screen screen screen screen screen screen screen screen screen screen screen screen

Лазерный SLAM сканер XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade – высокопроизводительный мобильный прибор, предназначенный для съемки в движении территорий, окружающей обстановки, внутренней и внешней части крупноразмерных целевых объектов, обеспечивая оперативный сбор данных для создания 3D моделей. Обладая улучшенным аппаратным и программным обеспечением, и реализуя функции искусственного интеллекта, модель способна выполнять моделирование в реальном времени, не тратя время на постобработку, что минимизирует трудоемкость работ.

Конструкционное исполнение и функциональные возможности

Для определения пространственного положения окружающих объектов, SLAM-сканер оборудован 16-канальным LiDAR-модулем с дальностью действия до 120 м. Он способен выполнять сканирование со скоростью 320 000 точек/с, вращаясь одновременно в двух плоскостях, обеспечивая сектор обзора 360° x 270°. Сбор визуальных данных для расцвечивания получаемого облака точек выполняют правая и левая 48-мегапиксельные панорамные камеры.

Особенности и преимущества XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade

  • Технология Multi-SLAM дает возможность задействовать для позиционирования визуальный канал, данные инерциального модуля и сигналы ГНСС с RTK поправками, обеспечивая точное определение абсолютных координат для точек сканирования в любых условиях, даже при временном отсутствии спутникового сигнала.
  • Алгоритм LixelUpSample позволяет программными средствами увеличивать плотность облака точек, добиваясь фотографической точности визуализаций.
  • Приложение LixelGO, устанавливаемое на пользовательский смартфон и используемое для настройки прибора и управления съемкой, поддерживает просмотр визуализаций в режиме реального времени.
  • ПО LixelStudio включает расширенный перечень инструментов для постобработки и режимы для решения специфических задач, например, для расчета объемов.

Аксессуары

Для расширения базовых возможностей и повышения производительности сканер может опционально дооснащаться дополнительными принадлежностями. С помощью телескопической карбоновой вехи, длина которой при максимальном вылете составляет 2 м, удобно выполнять съемку с труднодоступных ракурсов. Разгрузочный жилет, снабженный регулируемой стойкой с быстросъемным креплением для прибора, позволяет освободить руки при выполнении работ, минимизируя трудоемкость продолжительного сканирования.

Купить лазерный сканер XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade, а также получить консультацию специалистов вы можете в нашем магазине, по телефону или непосредственно на сайте с помощью формы обратной связи или онлайн-консультанта.

Технические характеристики

Тип сканераSLAM (16 каналов)
Скорость сканирования320 000 точек/сек
Дальность измерений120 м
Относительная точность1,2 см
Длина волны лазера905 нм
Поле зрения360° х 270°
Система компенсации -
Камера48 Мп x2
НавигацияGPS, GLONASS, GALILEO, BeiDou
ИнтерфейсыUSB, Wifi, Bluetooth
ПамятьSSD 1 Тб
Формат данных.rcp, .las, .ply
Возможности программного обеспечениявычисления в реальном времени, смешанные вычисления
УправлениеПО Lixel Studio для постобработки, OC Windows
ПитаниеLi-Ion аккумулятор 14,4 В, 3250mAh
Время работы4 часа (две батареи)
Диапазон рабочей температуры от -30°С до +50°С
Степень защиты от пыли и влаги IP54
Размеры185 х 140 х 390 мм
Весне более 2,5 кг
Показать еще

Почему выбирают нас

  • Демо показ
    Бесплатное первоначальное обучение по эксплуатации
    Подробнее alt
  • Соответствие качеству
    Проведём поверку вашего оборудования с выдачей свидетельства на соответствие
    Подробнее alt
  • Эксклюзивный поставщик
    Эксклюзивный дистрибьютор XGRIDS на территории РФ.
    Подробнее alt

Аксессуары для Лазерный SLAM сканер XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade

Отзывы о Лазерный SLAM сканер XGRIDS Lixel L2 Pro 16/120 RTK Survey Grade

Сортировать по:
Оценке
Дате
Михаил Зубков 9 марта 2025
Отзыв
Просто нет слов, реально одни эмоции. Сам сканер без лишних проводов, ничего не мешается/не болтается, сделан монолитно. В поле реально легко пользоваться, без заморочек. Качество итогового результата шикарное. Однозначно рекомендую.
Читать еще
0
Ронталь Денис 28 февраля 2025
Отзыв
Качество выходного материала впечатляет. Цена, конечно, кусается, но прибор однозначно стоит своих. Смотрели конкурентов, этот понравился больше всего.
Читать еще
0
Николай Шустов 19 февраля 2025
Достоинства
- Превосходные встроенные камеры - Решение без проводов в принципе - Качественный результат не заставит себя ждать
Недостатки
Цена чуть чуть кусается, но это лучшее оборудование без сомнения
0
Иван Камзеев 5 февраля 2025
Достоинства
Прибор - ракета
Недостатки
Очень бережно приходится к нему относиться
Отзыв
Буквально отвалилась челюсть, когда я увидел качество съемочного материала. Нет равных, смотрели много похожего оборудования. Это стало решающим при выборе.
Читать еще
0
5
4 отзыва
4 отзыва
0 отзывов
0 отзывов
0 отзывов
0 отзывов
Оставаясь на нашем сайте, вы даете согласие на использование файлов cookies и сбор данных системами веб-аналитики